Применение

X-Art M - анализатор широкого назначения для определения химического состава различных объектов, включая произведения искусства. На открытом воздухе элементы от Mg (Z=12) до U (Z=92) анализируются одновременно. Толщина кристалла детектора от 3 до 5 мм обеспечивает высокую эффективность регистрации, таким образом, все тяжелые элементы в принципе могут быть проанализированы по K-сериям флуоресцентных линий.

Особенности

• Недеструктивный on-line контроль состава материала непосредственно на поверхности объектов (качественный и количественный анализ)
• Произвольная ориентация аналитического блока в пространстве
• Минимальное расстояние от поверхности образца до окна детектора, которое обеспечивает эффективный анализ легких элементов
• Простое и удобное управление и обслуживание

Опции:

• Заполнение воздушного промежутка между образцом и детектором атмосферой гелия для повышения интенсивности линий легких элементов в регистрируемых спектрах
• Прецизионная подвижка изменения расстояния от поверхности образца до аналитического блока для раздельного послойного детектирования спектров многослойных объектов

Полный комплект

• Гамма спектрометр на основе детектора NaI
• Программное обеспечение SpectraLineGP
• USB кабель (2 м)
• Документация
• Дополнительные аксессуары:
• Тренога
• Свинцовая защита
• Чашки Маринелли и т.д.